ict測試設(shè)備自動光學檢測 (AOI)

ict測試設(shè)備AOI運用單個 2D 相機或兩個 3D 相機拍攝 PCB 的照片。然后，程序會將電路板的照片與細致的原理圖停止比擬。假如存在與原理圖在一定水平上不匹配的電路板，則該電路板會被標志以供技術(shù)人員檢查。

ict測試設(shè)備AOI 可用于及早發(fā)現(xiàn)問題以確保盡快關(guān)閉消費。但是，它不會為電路板供電，并且可能無法 100% 掩蓋一切部件類型。

切勿僅依賴自動光學檢測。AOI 應(yīng)與其他測試分離運用。我們喜歡的一些組合是：

AOI 和飛針

AOI 和在線測試 (ICT)

AOI 和功用測試

4. ict測試設(shè)備老化測試

望文生義，ict測試設(shè)備老化測試是對 PCB 的一種更激烈的測試。它旨在檢測早期毛病并樹立負載才能。由于其強度，老化測試可能會毀壞被測部件。

ict測試設(shè)備老化測試經(jīng)過您的電子設(shè)備推進電力，通常是在其[敏感詞]指定容量。電源經(jīng)過電路板連續(xù)運轉(zhuǎn) 48 至 168 小時。假如董事會失敗，則稱為嬰兒死亡率。關(guān)于軍事或醫(yī)療應(yīng)用，嬰兒死亡率高的電路板顯然不是理想的。

ict測試設(shè)備老化測試并不適用于每個項目，但在某些中央它很有意義。它能夠在產(chǎn)品抵達客戶之前避免為難或風險的產(chǎn)品發(fā)布。

請記住，ict測試設(shè)備老化測試會縮短產(chǎn)品的運用壽命，特別是當測試使您的電路板接受比額定值更大的壓力時。假如發(fā)現(xiàn)的缺陷很少或沒有發(fā)現(xiàn)，則能夠在較短的時間內(nèi)降低測試限制，以防止 PCB 接受過大的壓力。